改正ＦＩＴ法が求める 太陽光発電の測定ノウハウ
改正ＦＩＴ法が求める内容
維持・管理の為の定期点検の流れ
維持・管理の為の計測器
太陽光発電工事は、Ｉ－Ｖ特性を測定して完了！！
汎用テスタの電圧測定だけでは、測定できません。正確には負荷試験で、電流-電圧特性することです。
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汎用テスタで測定出来るのは、開放電圧だけです。
「薄幕」モジュールの抜けと発電電圧は測れません。
「単結晶・多結晶」モジュールの接続間違いは発見できますが、発電能力は測れません。
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設置した太陽光発電の発電能力を測定するには、負荷試験が必要です。
IVH-2000Z I-Vカーブトレーサで簡単に出来ます。
太陽電池は、種類によって影の影響が異なります。
太陽電池は影や異物の影響により、発電量が変化します。このような変化は汎用テスタでは測定する事ができず、
不具合を見落とす原因にもなります。
正確にＩ－Ｖカーブを測定し、最大発電量を算出する事で、故障や劣化を未然に防ぐ事が可能です。
結晶シリコン系モジュール
・モジュールの中に、発電しないセルがあると、回路全体が働かない。
・結晶シリコン系モジュールの場合、一般的にＩ－Ｖカーブが崩れ、発電量に大きな差が出てきます。
薄膜系モジュール
・影により、出力は一時低下するが、回路全体への影響は少ない。
・薄膜系モジュールの場合、一般的にＩ－Ｖカーブに崩れはなく、短絡電流・発電量に大きな差が出てきます。
IVH-2000Zで測定したI-V特性
【単結晶・多結晶】は、I-V特性の「ｒ形」とPmの「数値」でチェックしましょう。 IVH-2000Zで測定
影が入るとＩ－Ｖカーブは予測できない形状になります。
影の状況により、形は様々ですが、共通して言える事はＩ－Ｖカーブは崩れると言う事です。
太陽光発電 測定ノウハウ資料
